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ES660 靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)是一款先進的多針自動測試設備，旨在滿足現(xiàn)代半導體測試的嚴格要求。這款多功能設備旨在無縫支持人體模型 (HBM)、機器模型 (M...

ES640充電器件模型（CDM）測試系統(tǒng)，充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見原因。較低電壓下的C??DM放電會嚴重損壞或損毀靈敏設備。當帶靜電...

ES612A ESD測試儀(HBM、HMM、MM)是一款2管腳ESD測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM、HMM和...

ES622系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)是一種IV曲線表征系統(tǒng)，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1標準，旨在高功率時域中模擬ESD事件（TLP/VF-T...

TLP傳輸線脈沖測試系統(tǒng)是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統(tǒng)，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低壓浪涌。系統(tǒng)會檢測...

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization...

ES640 Charged Device Model (CDM) Test SystemCharged Device Model (CDM) electrost...

ES612A ESD TESTER (HBM, HMM, MM) is a 2-Pin tester designed for the evaluation o...

EOS-500過電應力模擬發(fā)生器是一款50歐姆輸出阻抗脈沖發(fā)生器，用于一般EOS測試，脈沖寬度可在ns至ms范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。

ES62X-LVS Low Voltage Surge System is designed for testing the surge immunity of...

ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)，能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝...

TLP-1000A Series Transmission Line Pulse Generator is our latest design for stan...

TLP-1000A系列傳輸線脈沖發(fā)生器是我們最新的（2022）獨立TLP脈沖設計，可以產(chǎn)生直接TLP脈沖、E場和H場并將其注入被測器件（DUT）。該發(fā)生器設計用...

TLP-1000 系列高壓脈沖發(fā)生器是我們推出的一款傳輸線脈沖（TLP）發(fā)生器，輸出電壓可達5 kV。該發(fā)生器能夠產(chǎn)生一個過沖小，平整度高的傳輸線脈沖，可直接注...

ES62X-LVS 型低壓浪涌測試系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級...

ES612 HBM（HMM,MM）測試儀是一款2管腳測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM，HMM和MM 的相關(guān)ES...

CDM 器件充放電測試系統(tǒng)為ESD事件中的器件充放電測試模型， 模擬帶電荷的器件在接觸地低電荷時瞬間放電形成電流，對器件造成損傷和擊壞的過程

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號源產(chǎn)生電磁場，用于測試IC，無線通信模塊等。外部信...

A4003 ESD 電流靶校準套件（電流靶、適配器 （或 50 Ω 錐形適配器） 校準套裝）是一套完整的多合一校準測量裝置，用于檢測ESD電流靶的頻率響應（ –...

ES631-線纜ESD放電測試系統(tǒng)是一種綜合型測試系統(tǒng)，用于模擬帶電的以太網(wǎng)線向任意基于以太網(wǎng)的網(wǎng)絡系統(tǒng)或設備放電時的影響。